记一次 fio 导致磁盘坏块事件

**磁盘坏块事件报告**

最近，我们在测试环境中使用FIO进行磁盘性能测试时，意外地遇到了一个磁盘坏块事件。下面是事件的详细描述。

**背景**

我们正在测试一组高性能服务器，每台服务器都配备有多个硬盘。我们的目标是评估这些硬盘在读写密集型工作负载下的性能表现。为了实现这一点，我们使用了FIO这个开源工具来模拟各种工作负载。

**事件描述**

我们选择了一块4TB 的 SSD 硬盘作为测试对象。我们配置了 FIO 来进行持续的随机读写测试，测试时间为24 小时。测试参数如下：

bashfio --name=ssd_test --filename=/dev/sda1 
 --direct=1 --ioengine=libaio 
 --iodepth=128 --bs=4k 
 --numjobs=16 --readwrite=randrw 
 --rwmixread=75 --rwmixwrite=25 
 --time_based --runtime=86400

在测试过程中，我们使用了16 个线程，每个线程负责读写128KB 的数据块。我们设置了随机读写比例为75:25，表示每100 次 I/O 操作中有75 次是读操作，而25 次是写操作。

**事件发生**

测试开始后约12 小时，我们突然发现硬盘的性能急剧下降。磁盘的读写速度明显减慢，甚至出现了 I/O 阻塞的情况。我们立即停止了 FIO 测试，并检查硬盘的状态。

**问题分析**

经过初步检查，我们发现硬盘上的坏块数量迅速增加。坏块的位置似乎与我们的测试模式有关。我们怀疑是由于 FIO 的随机读写模式导致磁盘的写操作过度集中，导致了写损伤和坏块的产生。

**解决方案**

为了避免类似事件再次发生，我们采取以下措施：

1. **降低线程数**: 我们减少了线程数，从16 个降低到8 个，以减少每个线程负责的 I/O 操作数量。
2. **增加块大小**: 我们将块大小从4KB 增加到64KB，减少了 I/O 操作的频率。
3. **调整读写比例**: 我们调整了读写比例，从75:25 变为50:50，以减少写操作的数量。

经过这些调整后，我们再次进行 FIO 测试。结果表明，磁盘的性能得到显著改善，没有出现坏块的情况。

**结论**

本事件报告强调了在高性能测试中需要谨慎处理硬盘的写操作。随机读写模式可能导致写损伤和坏块的产生。通过调整测试参数，我们可以避免类似事件再次发生。